GOM 3D Méréstechnikai Konferencia – 2015. [1]
Az optikai méréstechnika az ipari és kutatási területek szabványos eszközévé vált. Az idei évben megrendezésre kerülő GOM 3D Méréstechnikai Konferencia felhasználói prezentációkkal, élő bemutatókkal és ehhez kapcsolódó műszaki szakkiállítással mutatja be azt, ahogyan az optikai mérőrendszerek [2]lerövidítik a fejlesztési ciklusokat és tökéletesítik a gyártási folyamatokat.
A világszerte ismert vállalatoktól és kutatóintézetektől érkező cégvezetőknek és méréstechnikai szakembereknek létrehozott fórum kiváló lehetőséget biztosít a tapasztalatcserére. Az esemény mindemellett a 3D méréstechnika [2] legújabb hardware és software fejlesztéseire fókuszál.
A GOM Konferencia két fő eseményt foglal magába: Az első két nap az anyag- és alkatrész vizsgálati alkalmazásokat helyezi középpontba, az utolsó két nap témája pedig a 3D koordinátamérés és kiértékelés [2]lesz.
A konferencia előzetes programja az alábbi helyen elérhető:
Anyag- és alkatrészvizsgálatok [3]
A konferencia nyelve angol, a helyszín a GOM braunschweigi (Németország) központja.
További információ és regisztráció: www.gom-conference.com [5]